被動隔振臺GWA-TM 我司自主研發生產的氣浮隔振臺，空氣彈簧技術。低自然頻率和快穩定速度。價格diyu其市場標準15%以上。

被動隔振臺GWA-M我司自主研發生產的氣浮隔振臺，空氣彈簧技術。更低的自然頻率和更快的穩定速度。價格diyu市場標準百分之十五以上。

主動隔振臺ARISTT是一款輕量的桌面式隔振系統，輕量化的架構設計使得安裝和移動十分便捷。采用進口非壓電式技術，無限制反饋傳感器結合鋼制彈簧和氣囊高度耦合的被動基礎帶來0.5-100赫茲的超寬隔振頻域...

主動隔振臺ARISMDARISMD主動隔振器是一款輕量的落地式隔振系統，輕量化的架構設計使得安裝和移動十分便捷。采用進口非壓電式專用技術，無限制反饋傳感器結合鋼制彈簧和氣囊高度耦合的被動基礎帶來0.5...

AMT主動隔振系統是一款桌面式主動隔振器，自動水平，快速反饋，安裝簡易主動隔振臺AMT

Estable主動隔振臺是一款桌面式主動隔振器，自動水平，快速反饋，安裝簡易，前端LED實時反饋工作狀態。

TNI LF-2000原位自動納米操作系統是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動化程度的納米操作系統，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復定位、低漂移、閉環運動控制定位的納米操作系統。LF-2000...

FT-NMT04納米力學性能測試系統是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準確量化材料在微觀和納米尺度上的力學行為。

InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過在真空環境中單加熱jian端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容...

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試；也可以直接在大氣環境下測試。本產品可進行硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試、力學性能譜圖、納米動態力...

Duramin-100 廣泛載荷范圍硬度計系列包括微觀和通用測試儀。頂級型號涵蓋從 10 gf 到 250 kgf 的廣泛載荷范圍，包括電動 XY 載物臺、電動測試壓頭、全景相機、激光制導和 8 位轉...

此系列顯微硬度測試儀為入門級別，雖然主要針對維氏硬度測試，但是也可用于努氏硬度測試和布氏硬度測試。硬度計。

Duranmin-40硬度計 涵蓋了 Struers 微觀/宏觀硬度測試儀的基本載荷范圍。此測試儀配有手動和電動 XY 載物臺和一個全景相機。

P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了低成本，適...

自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P17。該系統支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力2D和3D測量，掃描可達200mm無需圖像拼接。結合UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，有出色測...

P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接...

KLA*的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，帶有電動載物臺。可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復性以及...

這款XRD設備是由美國NASA用于火星探測目的研制。2009年正式軍用轉民用，榮獲了2010年美國宇航局大獎，被廣泛應用于地質、采礦、金屬、材料、石油化工、醫藥、環保等等行業而聞名業界，能提供多款性能...

Element 能量色散譜 (EDS) 系統為一款緊湊裝置，分析能力十分強大，可極大限度提升性能和靈活性，同時提供簡化操作以確保快速獲得結果且易于使用。它專注于工業市場，而在工業市場中需要快速準確地解...

作為納米結構的基本組成單元，團簇或納米顆粒在納米科學中具有關鍵的地位。我們設計研制了兩套氣體聚集型團簇源：基于熱蒸發的氣體聚集團簇束流源和磁控等離子體聚集型團簇源。以團簇源為中心構成了團簇束流實驗和沉...

脈沖激光沉積（PLD）是一種用途非常廣泛的薄膜及納米結構的制備方法。其已成功地應用于各種復雜氧化物、氮化物和多元素材料等的薄膜制備。近年來，激光薄膜制備已發展到了分子束外延的水平，即激光分子束外延(L...

德國SURFACE公司自1993年起就從事脈沖激光沉積鍍膜系統（PLD）的研發和制造工作，在這期間SURFACE公司不但向市場提供了標準的PLD系統，而且也提供專門為客戶訂制的PLD系統。本產品的特點...

日本Kosaka輪廓儀（臺階儀）ET4000是Kosaka公司推出的全自動接觸式微細形狀測定儀，具有高精確性、穩定性和重復性，可測量FPD、晶片、磁盤，和與納米材料相關物件的表面特性、臺階高度和粗糙度...

可以實現納米級紅獲得樣品化學性質、接觸共振獲得樣品力學性能、原子力顯微鏡獲得樣品三維形貌、納米熱學分析獲得樣品熱量傳輸溫度。