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三維測量輪廓儀

產(chǎn)品簡介

從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進(jìn)行表面微觀測量分析和粗糙度質(zhì)量評價。白光干涉原理。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2024-09-06

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應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件

三維測量輪廓儀

三維表面微觀測量及粗糙度評定廣泛應(yīng)用于精密加工、半導(dǎo)體加工、材料分析等領(lǐng)域

優(yōu)勢

√ 亞納米級縱向分辨率，適合光滑表面測量分析

√ 簡單、精確、快速、可重復(fù)

√ 豐富的測量模式支持不同2D/3D測量需求

功能

√ 表面三維粗糙度非接觸測量

√ 表面微觀三維結(jié)構(gòu)測量

√ 膜厚測量與分析

√ 顯微反射光譜測量(選)

適用對象

精密光學(xué)元件，微納加工器件，金屬機(jī)加工零件，晶圓等

測量原理

√ 白光干涉顯微測量原理：采用白光光源，將非相干光干涉和高分辨率顯微成像技術(shù)相結(jié)形成微觀三維輪廓，采用不同測量倍率物鏡，縱向測量分辨率可達(dá)到亞納米量級

√ 顯微光譜測量：選配光譜模塊可以實現(xiàn)表面微區(qū)光譜測量和膜厚測量功能

實測案例

三維測量輪廓儀

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